電阻率測(cè)試儀
2023-08-20
電阻率測(cè)試儀具有高精度、高穩(wěn)定性、高分辨率等優(yōu)點(diǎn)，可以廣泛應(yīng)用于各種材料的研究、生產(chǎn)和質(zhì)量控制等領(lǐng)域。例如，在半導(dǎo)體工業(yè)中，電阻率測(cè)試儀可以用于檢測(cè)半導(dǎo)體材料和器件的電性能，以確保它們符合要求。
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斯科特(史考特)容量計(jì)松裝密度測(cè)試儀
2023-08-20
斯柯特容量計(jì)法是一種測(cè)量粉末松裝密度的方法，基于斯柯特容量計(jì)測(cè)定原理。將粉末放入斯柯特容量計(jì)的漏斗中，讓粉末通過一系列的阻尼板和擋板，進(jìn)入已知體積的圓柱杯中，然后稱量圓柱杯中金屬粉末的質(zhì)量，用粉末的質(zhì)量除以圓柱杯的體積，即得到該粉末的松裝密度值。該測(cè)試裝置適用于不能自由流過漏斗法中孔徑為5mm的漏斗和用振動(dòng)漏斗法易改變特性的粉末。
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電壓降測(cè)試儀
2023-08-20
電壓降測(cè)試儀是一種用于測(cè)量電壓降的設(shè)備。它可以通過測(cè)量不可重接插頭插銷與連接插頭引出線等類似接線口的電壓降，來判斷接線口優(yōu)劣。該測(cè)試儀具有可調(diào)的恒電流輸出，微電壓測(cè)試和數(shù)碼管顯示。測(cè)試可設(shè)定時(shí)間，時(shí)間到和電流*高關(guān)斷電路測(cè)量
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高溫電阻率測(cè)試儀
2023-08-20
高溫電阻率測(cè)試儀是一種用于測(cè)量材料在高溫環(huán)境下的電阻率的儀器。該儀器能夠在高溫條件下運(yùn)行，可以對(duì)材料進(jìn)行高溫測(cè)試，以評(píng)估其在高溫條件下的電性能。 高溫電阻率測(cè)試儀通常采用四探針法進(jìn)行測(cè)量，其基本原理是通過接觸材料表面的四個(gè)探針，測(cè)量材料在高溫條件下的電阻值，并計(jì)算出電阻率。該儀器具有高精度、高穩(wěn)定性、高分辨率等優(yōu)點(diǎn)，同時(shí)可以控制測(cè)試溫度，進(jìn)行高溫測(cè)試。
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導(dǎo)體電阻率測(cè)試儀
2023-08-20
導(dǎo)體電阻率測(cè)量：測(cè)試儀可以測(cè)量各種材料的導(dǎo)體電阻率，包括電線電纜、連接器插頭、導(dǎo)體電阻、PCB電路、焊孔電阻、接地電阻等。 測(cè)試速度快捷：測(cè)試速度可以達(dá)到10次/秒，同時(shí)保證0.05%的精度，讀數(shù)跳動(dòng)可控制在5個(gè)字符以下。 高性能微處理器控制：測(cè)試儀由高性能的微處理器進(jìn)行控制，具有高精度、高穩(wěn)定性、高分辨率等優(yōu)點(diǎn)。
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體積電阻率測(cè)試儀
2023-08-20
體積電阻率測(cè)試儀一般采用電極式測(cè)量方法，即通過兩個(gè)電極接觸材料表面，測(cè)量電極之間的電阻值，進(jìn)而計(jì)算出材料的體積電阻率。 通常體積電阻率越高，材料用做電絕緣部件的效能就越高。通常所說的電阻率即為體積電阻率。 體積電阻率測(cè)量：測(cè)試儀可以測(cè)量各種材料的體積電阻率，包括絕緣材料、抗燃油、變壓器油等 三環(huán)電極是體積電阻測(cè)試儀的一種電極類型
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表面電阻率測(cè)試儀
2023-08-20
表面電阻率測(cè)試儀是一種用于測(cè)量物體表面電阻值的儀器。它通過測(cè)試物體表面電阻，可以評(píng)估物體的導(dǎo)電性能，對(duì)于微電子、醫(yī)藥、航空航天、精密機(jī)械等領(lǐng)域具有重要意義。 表面電阻率測(cè)試儀一般采用電極式測(cè)量方法，即通過兩個(gè)電極接觸物體表面，測(cè)量電極之間的電阻值，進(jìn)而計(jì)算出物體的表面電阻率。
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方塊電阻測(cè)試儀
2023-08-20
方塊電阻測(cè)試儀是一種用于測(cè)量半導(dǎo)體材料的方塊電阻的儀器。它采用四探針法，通過接觸材料表面的四個(gè)探針來測(cè)量其方塊電阻值。 方塊電阻測(cè)試儀的功能包括： 電阻率測(cè)量：通過四探針法，測(cè)量半導(dǎo)體材料或薄膜的電阻率。 薄層電阻測(cè)量：對(duì)于薄層材料或薄膜，該設(shè)備可以測(cè)量其薄層電阻。 方塊電阻測(cè)量：可以測(cè)量半導(dǎo)體材料和薄膜的方塊電阻。
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四探針電阻率測(cè)試儀
2023-08-20
四探針電阻率測(cè)試儀是一種用于測(cè)量材料電阻率的儀器，采用四探針法進(jìn)行測(cè)量。四探針法是一種電學(xué)測(cè)量方法，通過接觸材料表面的四個(gè)探針來測(cè)量其電阻值，并根據(jù)材料的具體形狀和尺寸計(jì)算出電阻率。
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四探針測(cè)試儀
2023-08-20
四探針測(cè)試儀是一種用于測(cè)量半導(dǎo)體材料電阻率以及薄層電阻的設(shè)備。它利用四探針法，在樣品上逐漸減小兩個(gè)外側(cè)探針之間的距離，直到內(nèi)側(cè)探針上的電勢(shì)變化為止
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