復合集流體極片電阻的測試方法
2024-05-27
復合集流體極片電阻，原理說明Principle explanation 采用”同步分層級法“對復合集流體各層級電阻，電阻率，整體導電層電阻，壓實密度進行測量.
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QJ 487-1983鋁及鋁合金化學導電氧化膜層接觸電阻
2024-05-20
QJ 487-1983鋁及鋁合金化學導電氧化膜層技術條件；導電性能要求膜層接觸電阻要求，經化學導電氧化處理的試片，在1kg/平方毫米的電極壓力下，其接觸不大于900毫歐/平方毫米.
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電解槽雙極板接觸電阻
2024-05-10
雙極板接觸電阻的大小取決于多個因素，包括接觸面積、接觸壓力、接觸材料和表面狀態等。例如，增加接觸面積和接觸壓力可以降低接觸電阻，而使用導電性能更*好的材料或保持表面清潔也可以降低接觸電阻。
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碳纖維單絲、紗束及其復合材料電阻率測試方法
2024-01-23
體積電阻率由試樣的電阻、試樣的長度和橫截面積計算得到.電阻和試樣長度由測試獲得;方法A碳纖維單絲體積電阻率的測定方法，其橫截面積由單絲直徑計算獲得；方法B碳纖維紗束體積電阻率，橫截面積由試樣的密度和線密度計算獲得.
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轉鼓法表征粉體流動性的特點及應用
2024-01-15
轉鼓法表征粉體流動性的特點及應用 轉鼓法表征粉體流動性的特點是操作簡單、快速、準確度高，可以用于各種粉體材料的流動性測試，包括金屬、非金屬、礦物、化學原料等。
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材料電阻/電阻率測試方法及特點
2024-01-15
材料電阻/電阻率測試方法及特點 材料電阻率是描述材料導電性能的物理量，其大小取決于材料的種類、成分、溫度、壓力等因素。電阻率越大，導電性能越差；電阻率越小，導電性能越好。
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四探針法測量半導體電阻率及薄層電阻
2023-12-07
四探針法測量半導體電阻率及薄層電阻 四探針法是一種廣泛用于測量半導體電阻率及薄層電阻的電學測量方法。其通過在樣品上放置四個探針，并施加電流，測量電壓降來計算電阻率和薄層電阻。該方法的優點在于其非破壞性、快速、準確且適用于不同形狀和大小的樣品。
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半導體電阻率的測試方法及影響因素
2023-12-07
半導體電阻率的測試方法及影響因素 半導體電阻率是衡量半導體材料電學性能的重要參數，對于半導體的制備和器件的性能有著重要的影響。因此，對半導體電阻率的測試方法及影響因素進行研究，對于半導體產業的發展具有重要意義。
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直流四探針法測電阻率樣品厚度和面積的影響
2023-12-07
直流四探針法測電阻率樣品厚度和面積的影響 直流四探針法是一種常用的測量電阻率的方法，它通過測量四個探針之間的電流和電壓來計算電阻率。然而，樣品的厚度和面積對測量結果有很大影響。
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電阻 方塊電阻 電阻率的區別
2023-12-07
電阻 方塊電阻 電阻率的區別 電阻是一個物理概念，表示導體對電流的阻*礙作用。方塊電阻和電阻率是電阻的兩種不同度量方式，它們之間存在一定的區別。
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